[发明专利]一种基于线偏振光入射的圆二色谱和折射率测量系统

摘要

本发明涉及一种基于线偏振光入射的圆二色谱和折射率测量系统。超连续光源出射的宽谱连续光经第一透镜后整束得到平行光，经可调起偏器调制成与一维周期金属槽结构成第一角度的线偏振光，入射至附在一维周期金属槽结构表面的待测手性样品后透射的光经第二透镜聚焦后由光谱仪采集；再而调整可调起偏器使得平行光调制成与一维周期金属槽结构成与第一角度成相反对称角度的第二角度的线偏振光，再次入射至待测手性样品后透射的光经第二透镜聚焦后由光谱仪采集；根据两次采集的透射光谱，即可计算获得待测手性样品的圆二色光谱信号和折射率。本发明测试方法简单，且本发明采用的元件都是通用元器件，因此发明系统的整机成本很低，具有很大的推广价值。

主权项

1.一种基于线偏振光入射的圆二色谱和折射率测量系统，其特征在于：包括超连续光源、第一透镜、可调起偏器、一维周期金属槽结构、第二透镜、光谱仪；所述超连续光源出射的宽谱连续光经第一透镜后整束得到平行光，然后经可调起偏器调制成与一维周期金属槽结构成第一角度的线偏振光，入射至附在一维周期金属槽结构表面的待测手性样品，而后透射的光经第二透镜聚焦后由所述光谱仪采集；再而调整可调起偏器使得平行光调制成与一维周期金属槽结构成与第一角度成相反对称角度的第二角度的线偏振光，入射至附在一维周期金属槽结构表面的待测手性样品，而后透射的光经第二透镜聚焦后由所述光谱仪采集；光谱仪根据两次采集的透射光谱，即可计算获得待测手性样品的圆二色光谱信号和折射率；所述第一角度与第二角度分别为+45°与‑45°、‑30°和+30°或‑60°和+60°。