[发明专利]半导体装置的制造方法和半导体装置有效
申请号: | 201610663255.5 | 申请日: | 2016-08-12 |
公开(公告)号: | CN106449436B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 光田昌也;渡部格 | 申请(专利权)人: | 住友电木株式会社 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L23/31 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;吕秀平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体装置的制造方法包括:在半导体晶片中与设有焊料凸点的电路形成面相反侧的面贴附有第一粘合部件的状态下,沿着半导体晶片的切割区域,在电路形成面形成多个规定宽度的刻痕的工序;在电路形成面贴附第二粘合部件的工序;剥离第一粘合部件的工序;将半导体晶片单片化得到结构体的工序,结构体具备第二粘合部件和多个半导体芯片,多个半导体芯片相互隔开规定间隔地配置且焊料凸点的一部分贴附在第二粘合部件的粘合面,电路形成面露出;使处于流动状态的半导体密封用树脂组合物与多个半导体芯片接触,向多个半导体芯片之间的间隙填充树脂组合物并利用树脂组合物覆盖电路形成面、其相反侧的面和侧面进行密封的工序;使树脂组合物固化的工序。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,其特征在于,包括:在半导体晶片中与设有焊料凸点的电路形成面相反侧的面贴附有第一粘合部件的状态下,沿着所述半导体晶片的切割区域,在所述半导体晶片的电路形成面形成多个规定宽度的刻痕的工序;在将所述第一粘合部件贴附于形成有所述刻痕的所述半导体晶片的状态下,在所述半导体晶片的电路形成面贴附第二粘合部件的工序;在所述半导体晶片的电路形成面贴附有所述第二粘合部件的状态下,剥离所述第一粘合部件的工序;在贴附有所述第二粘合部件的状态下,将所述半导体晶片单片化,由此得到结构体的工序,该结构体具备所述第二粘合部件和贴附于所述第二粘合部件的粘合面的多个半导体芯片,多个所述半导体芯片相互隔开规定间隔地配置,且设于多个所述半导体芯片的电路形成面的焊料凸点的一部分贴附在所述第二粘合部件的粘合面,所述电路形成面露出;使处于流动状态的半导体密封用树脂组合物与多个所述半导体芯片接触,向多个所述半导体芯片之间的间隙填充所述半导体密封用树脂组合物,并且利用所述半导体密封用树脂组合物覆盖所述半导体芯片的电路形成面、与所述电路形成面相反侧的面和侧面进行密封的工序;和使所述半导体密封用树脂组合物固化的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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