[发明专利]同位素比质谱仪中的检测器和狭缝配置有效

专利信息
申请号: 201610663803.4 申请日: 2016-08-12
公开(公告)号: CN106469638B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: M·迪亚博格;M·库鲁门;R·西多夫;S·西多夫 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
主分类号: H01J49/02 分类号: H01J49/02;G01N27/62
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 罗婷婷
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明描述一种在质谱仪10中配置法拉第检测器140的方法。所述质谱仪10界定中心离子束轴I,并且所述法拉第检测器140能相对于所述中心离子束轴I移动。所述法拉第检测器140包含具有检测器表面230的检测器布置以及界定离子进入所述检测器布置的入口的法拉第狭缝210,所述法拉第检测器140具有延伸穿过所述法拉第狭缝210的伸长轴A。选择所述法拉第狭缝210的宽度,并且调整所述法拉第检测器140的所述伸长轴A与所述中心离子束轴I之间的角α。这能防止入射离子到所述法拉第检测器140的检测器杯200中的准入超出所述法拉第检测器140的所述伸长轴A与离子在所述法拉第检测器140处的入射方向B之间界定的最大准入角γ的范围。
搜索关键词: 同位素 质谱仪 中的 检测器 狭缝 配置
【主权项】:
1.一种用于同位素比质谱仪的多接收器,所述多接收器包括多个接收器,所述多个接收器中的每一个包含检测器,所述检测器具有含检测器布置的检测器主体以及在进入所述检测器主体的方向上具有第一和第二对置表面的检测器正面,所述检测器正面界定入口狭缝;其特征在于,所述入口狭缝具有开口,所述开口在所述检测器面的第一正表面上比在所述检测器面的第二对置的背表面上更小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于塞莫费雪科学(不来梅)有限公司,未经塞莫费雪科学(不来梅)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610663803.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top