[发明专利]超高分辨micro‑CT分辨率测试方法及其装置在审
申请号: | 201610664132.3 | 申请日: | 2016-08-15 |
公开(公告)号: | CN106353348A | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 张蔚;金慧君;俞王新;谢舒平 | 申请(专利权)人: | 平生医疗科技(昆山)有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 | 代理人: | 刘洪勋 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种超高分辨micro‑CT分辨率测试方法及其装置,其特点是包括模体制作,获取分辨率,检测分析。同时,所述检测分析为,对重建图像进行叠加后平均,获取曲线,最终曲线不同的部位对应的分辨率数值。由此,采用较为精简的方式来制备模体,无需到国外采购,制备价格低廉,实施便利。模体的尺寸可以根据测试需要进行一对一制备,提升了检测的精密程度。并且,实施便捷,可直接通过图形化的方式展现结果,便于最终判定。 | ||
搜索关键词: | 超高 分辨 micro ct 分辨率 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
超高分辨micro‑CT分辨率测试方法,其特征在于:包括模体制作,获取分辨率,检测分析,所述模体制作包括以下步骤:步骤a1,根据micro‑CT图像的视野大小,加工合适尺寸的低密度吸收材料,步骤a2,在低密度吸收材料的表面包裹一层超薄金箔,构成模体;所述获取分辨率包括以下步骤:步骤b1,将模体垂直放入micro‑CT系统中,步骤b2,在横断面方向,以超薄金箔包裹在泡沫上的截面形状,对模体进行扫描,得到重建图像,步骤b3,在重建图像中,对超薄金箔进行厚度方向的剖析图分析,与剖析图的半峰宽相对应的,为图像的分辨率;所述检测分析为,对重建图像进行叠加后平均,获取曲线,最终曲线不同的部位对应的分辨率数值。
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