[发明专利]基于线偏振光入射一维周期金属槽的圆二色光谱测量系统

摘要

本发明涉及一种基于线偏振光入射一维周期金属槽的圆二色光谱测量系统。包括光源、可调起偏器、一维周期金属槽结构、样品流动池和光谱仪；所述光源能够产生连续不同波长光；所述可调起偏器用于将入射的非偏振光调制成相反对称偏振角的线偏振光；所述一维周期金属槽结构使得入射光照射在其槽内及表面产生局域增强的手性光场；所述样品流动池用于加载液体被测手性样品，并在所述一维周期金属槽结构置于样品流动池内时，使得液体被测手性样品匀速的流过一维周期金属槽结构表面，便于测量时保证信号稳定；所述光谱仪用于探测经一维周期金属槽结构反射后的光谱信号。本发明通过两次相反对称偏振角度的线偏振光入射一维周期金属槽结构，探测由被测手性样品在两次入射下吸收光不同引起的反射信号差，实现对样品的圆二色谱探测。

主权项

1.一种基于线偏振光入射一维周期金属槽的圆二色光谱测量系统，其特征在于：包括光源、可调起偏器、一维周期金属槽结构、样品流动池和光谱仪；所述光源能够产生连续不同波长光；所述可调起偏器用于将入射的非偏振光调制成相反对称偏振角的线偏振光；所述一维周期金属槽结构使得入射光照射在其槽内及表面产生局域增强的手性光场；所述样品流动池用于加载液体被测手性样品，并在所述一维周期金属槽结构置于样品流动池内时，使得液体被测手性样品匀速的流过一维周期金属槽结构表面，便于测量时保证信号稳定；所述光谱仪用于探测经一维周期金属槽结构反射后的光谱信号；光源出射的光经可调起偏器调制成相反对称偏振角的线偏振光后，分别入射至所述一维周期金属槽结构上，并在一维周期金属槽结构产生不同手征特性的手性光场，由于一维周期金属槽结构内的被测手性样品对不同手征的光有不同的吸收，使得相反对称偏振角的线偏振光入射后产生的反射不同，通过光谱仪采集相反对称偏振角的线偏振光入射后产生的反射光谱差信号即可表征被测样品的圆二色光谱信号；所述相反对称偏振角的线偏振光即相对于一维周期金属槽结构成+45°与‑45°、‑30°与+30°或‑60°与+60°的线偏振光；所述一维周期金属槽结构的尺寸能够根据光源出射波长进行调整；所述一维周期金属槽结构为完全独立结构或加工于基片上；所述样品流动池是封闭可循环的，其采用蠕动泵液体循环系统使得一维周期金属槽结构的表面匀速的流过所述被测手性样品。