[发明专利]一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法在审
| 申请号： | 201610667908.7 | 申请日： | 2016-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN106153653A | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 刘刚;李炀;杨宇航 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N1/28 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 罗观祥 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法，包括下列步骤：S1、对待测钢化玻璃绝缘子样品分组编号；S2、对各组钢化玻璃绝缘子样品进行碎片化处理；S3、对各组碎片化的钢化玻璃绝缘子样品进行初步研碎处理；S4、对各组初步研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行深度研碎处理；S5、对各组深度研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行初步密度分层操作，筛选微粒；S6、在玛瑙研钵中研磨钢化玻璃绝缘子样品微粒；S7、对钢化玻璃绝缘子研磨产品进行精度检测。该方法采用初步研碎和二次研磨，有效提升了研磨后产品的精度，利于后续的X射线衍射分析仪分析其中的成分，更好地研究钢化玻璃绝缘子自爆的原因，同时，便于掌握和推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 研磨 钢化玻璃 绝缘子 进行 射线 衍射 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法，其特征在于，所述方法包括下列步骤：S1、对待测钢化玻璃绝缘子样品分组编号；S2、对各组钢化玻璃绝缘子样品进行碎片化处理；S3、对各组碎片化的钢化玻璃绝缘子样品进行初步研碎处理；S4、对各组初步研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行深度研碎处理；S5、对各组深度研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行初步密度分层操作，筛选微粒；S6、在玛瑙研钵中研磨钢化玻璃绝缘子样品微粒；S7、对钢化玻璃绝缘子研磨产品进行精度检测。
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