[发明专利]考虑工艺凸台与零件体干涉的检测路径的检测方法及系统有效
申请号: | 201610669043.8 | 申请日: | 2016-08-15 |
公开(公告)号: | CN106154980B | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 汤晟 | 申请(专利权)人: | 汤晟 |
主分类号: | G05B19/4097 | 分类号: | G05B19/4097 |
代理公司: | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人: | 涂凤霞 |
地址: | 610000 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种考虑工艺凸台与零件体干涉的检测路径的检测方法,该方法首先是读取零件体和工艺凸台,自动生成零件检测特征上所有的检测点;根据检测工艺知识进行检测工步级、检测特征级和特征自身级路径规划;在工艺知识库的支撑下,完成检测工步级规划;在相邻的两个检测特征之间需要进行工艺凸台与零件体的干涉检查,若发生干涉,则执行干涉规避,确定出检测特征之间的检测路径;针对每一个检测特征,进行特征自身级规划时,在特征内相邻两个检测点之间需要进行工艺凸台的干涉检查,若发生干涉,则执行干涉规避,从而确定特征内的检测路径。有效解决了大型复杂的飞机结构件在线检测时测量头与工艺凸台或者零件体本身发生干涉碰撞的问题。 | ||
搜索关键词: | 考虑 工艺 零件 干涉 检测 路径 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种考虑工艺凸台与零件体干涉的检测路径的检测方法,包括以下步骤:步骤一:读取零件体和工艺凸台,自动生成零件检测特征上所有的检测点;步骤二:在相邻的两个检测特征之间需要进行工艺凸台与零件体的干涉检查,若发生干涉,则执行干涉规避,确定出检测特征之间的检测路径;步骤三:针对每一个检测特征,进行特征自身级规划时,在特征内相邻两个检测点之间需要进行工艺凸台的干涉检查,若发生干涉,则执行干涉规避,从而确定特征内的检测路径;步骤四:重复上述步骤,遍历所有的检测特征和检测点,直至完成整个路径的规划;所述检测特征级规划是确定出零件每个工步的所有检测特征的检测路径,为提高检测效率,首先确定检测特征的检测顺序,以顺序检测完检测工步的所有特征路径总和最短为目标,确定出检测特征之间的检测路径,检测工步完全由检测特征决定的,可以表示一维向量:MS={MF1,MF2,…MFi,…,MFm},式中,MFi为第i个检测特征,m为检测特征个数;在检测工艺知识库的支撑下,进行检测特征级规划;所述进行检测特征级路径规划时,在相邻两个检测特征之间进行工艺凸台与零件体干涉检查的具体方法,创建连接检测特征MFi(i=1,2……m‑1)上终止检测点Pi,E和检测顺序相连的检测特征MFi+1(i=1,2……m‑1)上起始检测点Pi+1,S的一条有向线段Pi,EPi+1,S;有向线段Pi,EPi+1,S与零件体Volume和工艺凸台侧面Cells创建相交,若
或者
则说明测量头与零件体发生了干涉或者测量头与工艺凸台发生了干涉;沿Pi,EPi+1,S方向,与零件体或者工艺凸台侧面相交的第一个面作为开始面Face1,最后一个相交面作为终止面Face2,最高面为FaceTop;创建最高面的偏置面FaceTopOffset,若顶面FaceTop的加工余量为dmm,该面上点的外法向为
测球直径为D,则最高面的偏置面可表示为
考虑实际测头移动不能与FaceTopOffset贴合,应对FaceTopOffset进行修正,修正距离为amm,测头轴向为
则
将检测点Pi,E和Pi+1,S投影到最高面的偏置面FaceTopOffset上,得到投影点Pi,E’和Pi+1,S’,则有向线段Pi,E’Pi+1,S’即为测头实际的移动路径。
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