[发明专利]一种基于微波水分仪的修正模型及检测方法有效
申请号: | 201610669890.4 | 申请日: | 2016-08-15 |
公开(公告)号: | CN106338526B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 陈辉;詹映;薛庆逾;石超 | 申请(专利权)人: | 上海创和亿电子科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N22/04 | 分类号: | G01N22/04 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 高燕;许亦琳 |
地址: | 201808 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于微波水分仪的修正模型及检测方法,所述的基于微波水分仪的修正模型包括:水分基础数据修正单元,用于采用下列模型生成修正后的水分基础数据:Y预测=A预测BQ,其中,Y预测为经过模型修正后微波水分仪上显示的水分基础数据;A预测为待测样品的原始信号的得分矩阵;Q为n个建模样品由烘干减重法获得的水分基础数据组成的浓度矩阵Y的载荷矩阵; |
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搜索关键词: | 一种 基于 微波 水分 修正 模型 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于微波水分仪的修正模型,其特征在于,所述模型为Y预测=A预测BQ,其中,Y预测为经过模型修正后微波水分仪上显示的水分基础数据;A预测为待测样品的原始信号的得分矩阵;Q为n个建模样品由烘干减重法获得的水分基础数据组成的浓度矩阵Y的载荷矩阵;B=(ATA)‑1ATY,其中A为n个建模样品的原始信号组成的矩阵X的得分矩阵;Y为n个建模样品由烘干减重法获得的水分基础数据组成的浓度矩阵,所述原始信号包括建模样品的MMA信号、AMP电压值、外部环境对仪器造成的背景电压、AMP电压值的标准偏差、以及建模样品的水分基础数据的标准偏差五部分组成。
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