[发明专利]存储器装置及其操作方法有效
| 申请号： | 201610672039.7 | 申请日： | 2016-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN106847339B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 刘炳晟;高在亨 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张晶;王莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器装置，其包括：成功/失败检查电路，其被配置成比较存储器单元的数量与第一参考位数量并且检查第一组存储器单元是成功还是失败，其中基于多个存储器单元的第一组存储器单元的验证编程操作的结果，存储器单元被验证为编程失败；以及控制电路，其被配置成当基于成功/失败检查电路的成功/失败检查操作的结果，发现第一组存储器单元成功时，基于小于第一参考位数的第二参考位数，控制成功/失败检查电路以重新检查第一组存储器单元是成功还是失败。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
一种存储器装置，其包括：多个存储块，每个存储块包括多个存储器单元；读取/写入电路，其适于读取所述多个存储器单元的第一组存储器单元的数据，并且适于验证对所述第一组存储器单元的每个存储器单元的编程操作；成功/失败检查电路，其适于比较第一参考位数与所述第一组存储器单元中的作为所述读取/写入电路的验证操作的结果被验证为编程失败的第一存储器单元的数量，并适于检查所述第一组存储器单元是成功还是失败；以及控制电路，其适于当作为所述成功/失败检查电路的成功/失败检查操作的结果，发现所述第一组存储器单元成功时，基于小于所述第一参考位数的第二参考位数，控制所述成功/失败检查电路以重新检查所述第一组存储器单元是成功还是失败。
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