[发明专利]外径量规的校对和定位测量结构在审
申请号: | 201610672150.6 | 申请日: | 2016-08-15 |
公开(公告)号: | CN106370070A | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 刘维;齐晓宁;张伟 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院化工材料研究所 |
主分类号: | G01B3/18 | 分类号: | G01B3/18 |
代理公司: | 四川省成都市天策商标专利事务所51213 | 代理人: | 袁辰亮 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种外径量规的校对和定位测量结构,包括尺架,还包括定位测量结构和校对量杆校对结构;所述定位测量结构包括指示表、指示表测砧、移动测砧和限位测砧;所述校对量杆校对结构包括移动测砧校对柱、指示表测砧校对柱、校对量杆、移动测砧端校对限位弹簧套、指示表测砧端校对限位弹簧套。本发明适用于25mm以上量程的外径量规,测量力不超过3.5N、测砧为大测量面,能够满足外径千分尺GB/T1216‑2004的核心技术指标,更能够实现弱刚性、低表面硬度工件的快速便捷准确测量。 | ||
搜索关键词: | 外径 量规 校对 定位 测量 结构 | ||
【主权项】:
一种外径量规的校对和定位测量结构,包括尺架,其特征在于还包括定位测量结构和校对量杆校对结构;所述定位测量结构包括:指示表、指示表测砧、移动测砧和限位测砧;所述指示表安装在所述尺架上,所述指示表测砧与所述指示表连接;所述移动测砧安装于所述尺架上;所述限位测砧安装于所述尺架正中的径向导向槽内;所述校对量杆校对结构包括:移动测砧校对柱、指示表测砧校对柱、校对量杆、移动测砧端校对限位弹簧套、指示表测砧端校对限位弹簧套;所述校对量杆一端与所述移动测砧校对柱连接,所述校对量杆另一端与所述指示表测砧校对柱连接;所述校对量杆一端套接所述移动测砧端校对限位弹簧套,所述校对量杆另一端套接所述指示表测砧端校对限位弹簧套。
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