[发明专利]一种检验聚合物电芯封边密封情况的方法在审

专利信息
申请号: 201610673508.7 申请日: 2016-08-15
公开(公告)号: CN106299174A 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 高海锋;任宁;孙延先;常林荣 申请(专利权)人: 浙江超威创元实业有限公司
主分类号: H01M2/08 分类号: H01M2/08;H01M10/0525;G01M3/32
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司33109 代理人: 尉伟敏
地址: 313100 浙江省湖州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种检验聚合物电芯封边密封情况的方法:1.取来若干除气封口后,有正常电压的电芯为检验样品;2.在顶封边上,固定负极耳的胶圈附近的铝塑膜热封边的中间区域,使用镀镍大头针一将铝塑膜刺穿,使镀镍大头针一接触到电芯壳体内部空间及内部电解液,并使镀镍大头针一一直保持刺穿状态;3.在正极耳一侧,铝塑膜热封边的中间区域,紧贴电芯主体,使用镀镍大头针二将铝塑膜刺穿,使镀镍大头针二接触到电芯壳体内部空间及内部电解液,并使镀镍大头针二一直保持刺穿状态;4.刺穿完后将此电芯在一定温湿度环境下放置观察2‑7天,查看镀镍大头针一和镀镍大头针二各自与铝塑膜接触部位的状态。本发明,操作简单,检验情况直观明了,检验成本低。
搜索关键词: 一种 检验 聚合物 电芯封边 密封 情况 方法
【主权项】:
一种检验聚合物电芯封边密封情况的方法,其特征是:包括以下步骤:(1)先取来若干除气封口后,有正常电压的电芯为检验样品;(2)在顶封边上,固定负极耳(1)的胶圈附近的铝塑膜热封边的中间区域,使用镀镍大头针一(2)将铝塑膜吗刺穿,使镀镍大头针一(2)接触到电芯壳体内部空间及内部电解液,并使镀镍大头针一(2)一直保持刺穿状态;(3)在正极耳(3)一侧,铝塑膜热封边的中间区域,紧贴电芯主体,使用镀镍大头针二(4)将铝塑膜刺穿,使镀镍大头针二接触到电芯壳体内部空间及内部电解液,并使镀镍大头针二(4)一直保持刺穿状态;(4)刺穿完后将此电芯在一定温湿度环境下放置观察一定天数,查看镀镍大头针一(1)和镀镍大头针二(4各自与铝塑膜接触部位的状态。
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