[发明专利]基于时间域相位展开的应力分析方法有效
申请号: | 201610674092.0 | 申请日: | 2016-08-16 |
公开(公告)号: | CN107643135B | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 王伟中;宋泊锜;江禹安;洪德恒 | 申请(专利权)人: | 王伟中 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种基于时间域相位展开的应力分析方法,适于一计算机装置执行,包含以下步骤:存取一光谱数据,该光谱数据由一光学检测系统通过光弹技术侦测一待测物件的一干涉条纹图形所产生,该光谱数据包含至少三笔对应于相异波长的光强度信息;依据每一光强度信息计算一相应的包裹相位信息;依据每一包裹相位信息计算一相应的包裹应力信息,每一包裹应力信息正比于其相应的包裹相位信息与波长的线性函数的乘积;依据包裹应力信息之间的相对关系择定一计算关系式;及依据该计算关系式计算一相应于该待测物件的包裹应力信息的应力值。本发明能即时快速量测应力,且不受限于波长的选用,具有高自由度。 | ||
搜索关键词: | 基于 时间 相位 展开 应力 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种应力分析方法,适于计算机装置执行,该计算机装置包含处理单元及储存单元,其特征在于,该应力分析方法包含以下步骤:步骤A:该处理单元自该储存单元存取光谱数据,该光谱数据由光学检测系统通过光弹技术侦测待测物件的干涉条纹图形所产生,该光谱数据包含至少三笔对应于相异波长的光强度信息;步骤B:该处理单元依据每一光强度信息计算相应的包裹相位信息;步骤C:该处理单元依据每一包裹相位信息计算相应的包裹应力信息,每一包裹应力信息正比于其相应的该包裹相位信息与该波长的线性函数的乘积;步骤D:该处理单元依据所述包裹应力信息之间的相对关系择定计算关系式;及步骤E:该处理单元依据该计算关系式计算相应于所述包裹应力信息的应力值,其中,于该步骤C中,每一包裹应力信息由下列公式计算:其中,Sw为该包裹应力信息,λ为该波长,A为与该波长λ独立的线性函数斜率项,B为与该波长λ独立的线性函数截距项,δw为该包裹相位信息。
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