[发明专利]存储器的擦除方法在审
| 申请号： | 201610676522.2 | 申请日： | 2016-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN106293538A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 罗旭;张宇飞;龚斌 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 屈蘅,李时云 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器的擦除方法，其在需执行多次擦除操作的过程中，还包括对所述多个扇区进行擦除校验以确认未完全擦除的扇区，从而在后续的擦除操作中，可仅对未完全擦除的扇区执行擦除操作，避免了对已为完全擦除的扇区再次执行多次的擦除操作。即，本发明提供的擦除方法中，可根据每个扇区的具体状况而执行相应次数的擦除操作，从而可有效防止对部分扇区执行多次不必要的擦除操作，以避免对存储器的擦除效率造成影响，进而可有效改善过擦除的现象，并进一步可大大缩减擦除过程的总时间。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 擦除 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器的擦除方法，所述存储器包括多个扇区，其特征在于，包括：S0：对所述多个扇区执行擦除校验，以判断所述多个扇区中是否存在有需执行擦除操作的扇区；S1：对需执行擦除操作的扇区施加擦除脉冲以对其进行擦除操作，并在擦除操作后对其进行擦除校验，以确认是否存在未完全擦除的扇区；若存在未完全擦除的扇区，则继续对其施加擦除脉冲并进行擦除校验，直至所有的扇区均为完全擦除的状态为止。
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