[发明专利]一种区分粒子群落的方法及粒子分析仪

摘要

本发明涉及一种区分粒子群落的方法及粒子分析仪，其中方法包括：获取不同粒子的特性分布的原始直方图H；根据获取的不同粒子的特性分布的原始直方图H，计算得到粒子的总数目；根据得到的粒子总数目，得到不同粒子的数目；根据得到的不同粒子数目，计算得到原始直方图的类间方差g(T)；根据计算得到的原始直方图的类间方差，得到最大类间方差，根据其最大类间方差确定不同粒子间的临界分类线。本发明的一种区分粒子群落的方法，粒子分布的原始直方图在不进过处理的情况，直接通过统计原始直方图的类间方差，获得最大类间方差值，从而较为准确的获得不同粒子之间的界限。

主权项

一种区分粒子群落的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：获取不同粒子的特性分布的原始直方图H；步骤S2：根据获取的不同粒子的特性分布的原始直方图H，计算得到粒子的总数目；步骤S3：根据得到的粒子总数目，得到不同粒子的数目；其中设置一个粒子大小阈值T，其中T表示粒子的大小，且T∈(1,N)，直方图中粒子大小为小于T的个数记为Sum1，粒子大小为大于等于T的个数记为Sum2，则有：步骤S4：根据得到的不同粒子数目，计算得到原始直方图的类间方差g(T)；其中g(T)＝Omega0·Omega1·(Mu0‑Mu1)2；Omega0表示粒子小于T的个数占总个数的比值；Omega1表示粒子大于等于T的个数占总个数的比值；Mu0表示粒子小于T的个数加权平均值。Mu1表示粒子大于等于T的个数加权平均值；步骤S5：根据计算得到的原始直方图的类间方差，得到最大类间方差，根据其最大类间方差确定不同粒子间的临界分类线。