[发明专利]一种适用于复杂调制工作状态下T/R组件的散射参数测试装置在审
| 申请号： | 201610681263.2 | 申请日： | 2016-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN106375030A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 郭敏;王尊峰 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/15;H04B17/29;G01S7/40 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于复杂调制工作状态下T/R组件的散射参数测试装置，包括主控计算机，所述主控计算机控制信号生成单元生成复杂调制信号，信号分离及反射提取单元接收复杂调制信号并从中提取出入射T/R组件的入射信号，信号分离及传输提取单元接收并提取T/R组件的调制传输信号，响应测试分析单元接收T/R组件的调制传输信号与反射信号，将其分离得到实时协同工作模式下的多通道参考耦合信号、反射耦合信号和传输耦合信号，计算得到多通道复杂调制工作状态下T/R组件的散射参数。本发明可以满足模拟实际工作状态下的多通道、复杂调制、激励性能可配置实现等技术要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 复杂 调制 工作 状态 组件 散射 参数 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种适用于复杂调制工作状态下T/R组件的散射参数测试装置，其特征是：包括主控计算机，所述主控计算机控制信号生成单元生成复杂调制信号，信号分离及反射提取单元接收复杂调制信号并从中提取出入射T/R组件的入射信号，信号分离及传输提取单元接收并提取T/R组件的调制传输信号，响应测试分析单元接收T/R组件的调制传输信号与反射信号，将其分离得到实时协同工作模式下的多通道参考耦合信号、反射耦合信号和传输耦合信号，计算得到多通道复杂调制工作状态下T/R组件的散射参数。所述信号生成单元、信号分离及反射提取单元、信号分离及传输提取单元和响应测试分析单元均为基于PXI总线设计实现。
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