[发明专利]一种发射装置偏移检测方法

摘要

本发明公开了一种发射装置偏移检测方法，它包括水平偏移检测和俯仰偏移检测，水平偏移检测包括以下步骤，S11：制作水平检测工装；S12：选取基准面，将水平检测工装放置在待检测导轨上，调整水平检测工装位置，使得水平检测工装的底部与待检测导轨完全贴合，然后用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并以该测量值作为基准；S13：多点检测；S14：数据处理；俯仰偏移检测包括以下步骤，S21：组装俯仰偏移检测装置；S22：选取基准点；S23：多角度测量；S24：数据处理。本发明的有益效果是：它具有检测方法简单、操作方便和保证检测精度的优点。

主权项

1.一种发射装置偏移检测方法，其特征在于：它包括水平偏移检测和俯仰偏移检测，所述的水平偏移检测包括以下步骤，S11：制作水平检测工装，根据带检测导轨所在圆弧的大小制作水平检测工装；S12：选取基准面，将水平检测工装放置在待检测导轨上，调整水平检测工装位置，使得水平检测工装的底部与待检测导轨完全贴合，然后用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并以该测量值作为基准；S13：多点检测，将水平检测工装在待检测导轨上滑动，滑动一段距离，用塞尺测量水平检测工装与顶部检测导轨之间的距离，并对数据进行记录；S14：数据处理，将S13中记录的尺寸，与基准尺寸进行对比，从而计算出待测导轨的直线度；所述的俯仰偏移检测包括以下步骤，S21：组装俯仰偏移检测装置，将俯仰偏移检测装置组装好，并将其固定安装在俯仰装置上；S22：选取基准点，在俯仰装置上选取一正对刻度线的点为基准点，并记录该基准点正对的刻度线，且以该刻度线作为基准刻度线；S23：多角度测量，驱动俯仰装置的俯仰，并对多个角度进行检测，记录S12中基准点正对的刻度线的变化；S24：数据处理，将S23上记录的刻度线与基准刻度线进行比对、计算，得到俯仰装置的俯仰偏移量和偏移精度；所述的水平检测工装包括大小相同的第一圆盘（11）和第二圆盘（12），所述的第一圆盘（11）和第二圆盘（12）通过多块连接件（13）连接，所述的第一圆盘（11）和第二圆盘（12）上均对称开设有弧形检测板（14），所述的弧形检测板（14）所在的圆周直径大于第一圆盘（11）的圆周直径，且在一弧形检测板（14）上设置有限位板（15）。