[发明专利]HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法在审
| 申请号： | 201610687207.X | 申请日： | 2016-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN106483185A | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | 程秀花 | 申请（专利权）人： | 中国地质调查局西安地质调查中心 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 天津市鼎和专利商标代理有限公司12101 | 代理人： | 李凤 |
| 地址： | 710054 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法，包括称取地质样品于封闭溶样弹的聚四氟乙烯内罐中，对地质样品预处理；配置氢化物发生反应体系，分别引入样品、酸和碱溶液，产生的氢化物经气液分离后由载气送入等离子体中进行测定；校准曲线及方法检出限，以3倍标准偏差计算，并考虑样品稀释倍数1000得到Ge和Te的检出限。本发明获得分析信号的灵敏度和稳定性较高，连续测定20次Ge和Te信号强度的相对标准偏差分别为8.3％和2.1％；Te检出限比采用敞口四酸溶样ICP‑MS直接测定的检出限0.1μg/g更低，应用于分析实际样品可给出准确结果。 | ||
| 搜索关键词： | hg icp ms 测定 地质 中稀散 元素 方法 | ||
【主权项】：
一种HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法，其特征在于，所述HG‑ICP‑MS测定地质中稀散元素锗和碲的方法包括：称取地质样品于封闭溶样弹的聚四氟乙烯内罐中，对地质样品预处理；配置氢化物发生反应体系，分别引入样品、酸和碱溶液，产生的氢化物经气液分离后由载气送入等离子体中进行测定；校准曲线及方法检出限，以3倍标准偏差计算，并考虑样品稀释倍数1000得到Ge和Te的检出限。
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