[发明专利]一种数字芯片功能验证方法及系统在审
| 申请号： | 201610693370.7 | 申请日： | 2016-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN106295048A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 史江义;李钊;缪磊;马佩军;古生霖;舒浩 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心61205 | 代理人： | 韦全生,王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种数字芯片功能验证方法及系统，用于解决现有技术中存在的验证准确度低的技术问题，本发明考虑了应用系统环境因素和故障信息对验证结果的影响，验证方法步骤为：模拟应用系统环境信息；模拟故障信息；根据待验证设计的设计规范生成基础测试向量；将环境信息及故障信息与基础测试向量整合；将整合后的向量输入给待验证设计，得到输出响应；将输出响应输入给数字芯片功能验证平台，检验输出响应的正确性，得出验证结论；验证系统包括首尾相连的数字芯片功能验证平台和待验证设计，数字芯片功能验证平台输出端连有整合模块，整合模块输入端连接有应用系统环境信息模拟模块和故障信息模拟模块，整合模块输出端连接到待验证设计输入端。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字 芯片 功能 验证 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种数字芯片功能验证方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)应用系统环境模拟模块模拟待验证芯片工作时的应用系统环境信息，得到量化后的应用系统环境信息；(2)故障信息模拟模块模拟待验证芯片工作时可能出现的故障信息，得到量化后的故障信息；(3)数字芯片功能验证平台根据待验证设计的设计规范信息生成基础测试向量；(4)整合模块将步骤(1)和步骤(2)中得到的经量化的应用系统环境信息以及故障信息添加给步骤(3)中得到的基础测试向量，得到最终测试向量；(5)整合模块将步骤(4)中得到的最终测试向量输入给待验证设计的输入端，得到待验证设计的输出响应；(6)数字芯片功能验证平台获取待验证设计的输出响应，并检验该输出响应的正确性，得出验证结论。
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