[发明专利]一种数字芯片功能测试方法及系统

摘要

本发明提出了一种数字芯片功能测试方法及系统，用于解决现有技术中存在的测试准确率低的技术问题，本发明考虑了应用系统环境因素和故障信息对测试结果的影响，测试方法的步骤为：产生理想数字激励向量；应用系统环境模拟；故障信息模拟；模拟故障信号放大；整形和量化；受到应用系统环境影响的理想激励向量与故障信息叠加，产生最终测试向量；将最终测试向量输入给待测试芯片系统；检验输出响应的正确性，得出测试结论；测试系统包括依次相连的故障发生器、信号放大器、整形和量化器，依次相连的理想激励向量发生器和应用系统环境模拟器，整形和量化器及应用系统环境模拟器的输出端连接有叠加器，叠加器的输出端连接有待测试芯片系统。

主权项

1.一种数字芯片功能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)理想激励向量发生器根据待测试芯片的设计规范，产生理想数字激励向量；(2)应用系统环境模拟器对步骤(1)产生的理想数字激励向量进行应用系统环境模拟，得到受到应用系统环境影响的数字激励向量；(3)故障发生器模拟待测试数字芯片工作时可能遇到的故障信息，得到模拟故障信号；(4)信号放大器对步骤(3)得到的模拟故障信号进行放大；(5)整形和量化器对步骤(4)经放大的模拟故障信号进行整形和量化，得到数字故障信号；(6)叠加器将步骤(2)得到的数字激励向量和步骤(5)得到的数字故障信号进行叠加整合，得到待测试芯片的最终测试向量；(7)叠加器将步骤(6)得到的最终测试向量输入给包含待测试数字芯片的PCB板级测试系统，测试系统得到输出响应；(8)检验测试系统得到的输出响应的正确性，得出测试结论。