[发明专利]基于联合滤波的遥感影像路网提取技术有效
申请号: | 201610693722.9 | 申请日: | 2016-08-19 |
公开(公告)号: | CN106295604B | 公开(公告)日: | 2017-11-03 |
发明(设计)人: | 臧彧;王程;杨文韬;罗伦;李迪龙 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/36;G06K9/44 |
代理公司: | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)44309 | 代理人: | 刘辉,廉红果 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于联合滤波的遥感影像的路网提取技术,结合人类视觉系统认知规律,根据显著图像结构在人类认知中所形成的非周期性、各向异性以及局部方向性,建立了一个完整的对道路显著结构的数学度量模型;在道路显著结构度量模型的指导下,结合流线方向性,建立了一个自适应平滑滤波函数,结合像素点空间距离高斯函数,实现对道路遥感影像的自适应平滑;在道路显著结构度量模型的指导下,结合极大极小值滤波,定义了一个自适应冲击滤波函数,该函数在不同区域产生的冲击增强强度不同,从而实现自适应的冲击滤波增强,从而在平滑非道路结构区域的同时保留显著道路结构,实现道路提取过程中遥感影像的预处理。 | ||
搜索关键词: | 基于 联合 滤波 遥感 影像 路网 提取 技术 | ||
【主权项】:
基于联合滤波的遥感影像路网提取方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、输入源图像,计算源图像的道路显著结构度量模型Mp,所述显著结构度量模型Mp具有如下形式,Mp=Ap·Dp·Lp式中,函数Ap、Dp以及Lp是中心像素点p显著结构的各向异性、局部方向性以及非周期性的度量,具体计算步骤如下:S11、各向异性度量Ap通过下式计算Ap=λ1,p-λ2,pλ1,p+λ2,p]]>式中λ1,p以及λ2,p分别为中心像素点p处结构张量矩阵Sp的特征值,以较大的特征值λ1,p为主特征值,较小的特征值λ2,p为副特征值;中心像素点p处的结构张量Sp通过下式计算Sp=Σq∈N(p)<▿xIq,▿xIq>Σq∈N(p)<▿xIq,▿yIq>Σq∈N(p)<▿xIq,▿yIq>Σq∈N(p)<▿yIq,▿yIq>]]>式中q为流线上像素点,其为中心像素点p的一个邻域N(p)内的一个像素点,〈·,·〉表示内积运算;Iq为流线上像素点q的像素值,及为流线上像素点q在x和y方向的偏导数;S12、局部方向性的度量Dp通过下式计算Dp=Σq∈N(p)Aq·<ϵ→p,ϵ→q>Σq∈N(p)Aq]]>式中分别为中心像素点p和流线上像素点q的结构张量矩阵对应的副特征向量,N(p)为中心像素点p所在的邻域,Aq为流线上像素点q点的显著性度量值;S13、非周期性度量Lp通过下式计算Lp=|Σq∈N(p)wp,q·▿xIq|+|Σq∈N(p)wp,q·▿yIq|]]>式中wp,q为权值,通过下式计算wp,q=exp(-||xp-xq||+||yp-yq||2σ2)]]>式中(xp,yp)为中心像素点p的坐标;(xq,yq)为流线上像素点q的坐标;σ为高斯函数中的标准差;S2、基于道路显著结构度量模型引导,结合线积分卷积相关原理,建立新的自适应平滑积分模型,对非道路结构的特征和潜在道路结构特征进行自适应的平滑滤波,具体计算步骤如下:S21、计算平滑程度控制函数g(σd,M),g(σd,M)为高斯核函数,式中,σd为g(σd,M)的宽度参数,M为源图像的道路显著结构度量模型的值,Mp和Mq为中心像素点p和流线上像素点q处的道路显著结构度量模型的值;S22、结合导向滤波概念与线积分卷积思想,定义了一个自适应平滑滤波函数I′p,Ip′=1K∫q∈N(p)wp,qg(σg,I)g(σd,M)·Iqdq]]>其中,为I′p的归一化参数,为传统线积分卷积过程中采用的一维低通滤波器的高斯核函数,通过下式计算,wp,qg(σg,I)=exp(-|xp-xq|22σg2)]]>其中,xp和xq分别为中心像素点p与流线上像素点q的x坐标值;I为源图像像素点的像素值;σg是的宽度参数,控制的径向作用范围;S3、根据所得平滑后图像,结合极大值极小值滤波方法,以道路结构模型为导向,建立一种改进的冲击滤波模型,实现对显著道路结构的增强,具体计算步骤如下:S31、计算控制冲击滤波增强函数T(x),T(x)=(1+tanh(λ(x-0.5)))2]]>其中x为制冲击滤波增强函数输入值,tanh(λ(x‑0.5))为双曲正切函数;λ为控制增强程度的因子,越大的值对应越锐利的边缘;S32、建立各向异性冲击滤波增强函数Ip,Ip=T(1-Mp·sign(vηη)2)D(I)p+(1-T(1-Mp·sign(vηη)2))E(I)p]]>其中,D(I)p,E(I)p为中心像素点p对应膨胀、腐蚀的值,函数由步骤S31的公式计算,sign(vηη)为边缘检测算子的符号函数,边缘检测算子vηη通过下式计算,vηη=c2Ixx+2csIxy+s2Iyy这里c和s为图像中结构张量场对应主特征向量的两个分量;Ixx为图像沿x方向的二阶偏导数;Iyy为图像在y方向上的二阶偏导数;Ixy为图像在x方向和y方向上各计算一次一阶偏导数的结果。
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