[发明专利]一种紫外发射材料的表面光电压谱测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201610699684.8 申请日: 2016-08-22
公开(公告)号: CN106383302A 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 钱芸生;刘健;冯琤;王岩 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 陈鹏,朱显国
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种紫外发射材料的表面光电压谱测试装置,包括氘灯光源、斩光器、光栅单色仪、紫外分光光纤、光功率计、光电压池、锁相放大器和计算机;氘灯光源与光栅单色仪之间放置斩光器;紫外分光光纤入射端与光栅单色仪出光口相连,出射端分别与光电压池和光功率计相连;光电压池信号输出端与锁相放大器信号输入端相连;光功率计和锁相放大器通信端口与计算机串口相连。本发明采用完全密闭的紫外分光光纤,可有效降低外界杂散光对表面光电压信号的干扰;光电压池内导电玻璃采用深紫外透明导电玻璃,能够获得强度高、稳定性好的紫外发射材料表面光电压信号。
搜索关键词: 一种 紫外 发射 材料 表面光 电压 测试 装置 方法
【主权项】:
一种紫外发射材料的表面光电压谱测试装置,其特征在于,包括氘灯光源[1]、斩光器[2]、光栅单色仪[3]、紫外分光光纤[4]、光功率计[5]、光电压池[6]、锁相放大器[12]和计算机[13];所述氘灯光源[1]输出口正对光栅单色仪[3]的输入口,组合形成波长可调的紫外单色光源;所述斩光器[2]设置在氘灯光源[1]和光栅单色仪[3]之间,用于对氘灯光源[1]发出的复合光进行斩波调制,使之成为交流光信号;斩光器[2]的信号输出端与锁相放大器[12]参考信号输入端相连,用于为锁相放大器[12]相敏检波提供参考频率信号;所述紫外分光光纤[4]入射端与光栅单色仪[3]出光口相连,出射端分别与光电压池[6]和光功率计[5]相连,用以传输光栅单色仪[3]所输出的紫外单色光;所述光功率计[5]用于对紫外分光光纤[4]输出端光功率进行检测;所述光电压池[6]用于放置样品,并提供测试所需暗环境;光电压池[6]的信号输出端与锁相放大器[12]信号输入端相连,所述锁相放大器[12]用于检测样品因光照产生的表面光电压信号的幅度和相位;所述计算机[13]通过串口与光栅单色仪[3]通信端口相连,用以控制光栅单色仪[3]光栅转动,以输出所需波长单色光;所述计算机[13]通过串口与光功率计[5]和锁相放大器[12]的通信端口相连,以读取光功率计[5]和锁相放大器[12]所探测信号值,计算样品[8]表面实时入射光功率,绘制表面光电压谱曲线。
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