[发明专利]低照度CMOS芯片性能测试系统在审
| 申请号： | 201610700230.8 | 申请日： | 2016-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN106405382A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 钱芸生;叶琼;郭一亮;朱波;王琦;林宇轩;徐华 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308;G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人： | 陈鹏,朱显国 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低照度CMOS芯片性能测试系统，包括卤钨灯光源、电动狭缝、第一积分球、可变孔径光阑、第二积分球、暗箱、待测低照度CMOS芯片、光照度计和计算机；将低照度CMOS芯片置于暗箱中，卤钨灯产生的均匀光入射到低照度CMOS芯片的光敏面，经过计算机调节电动狭缝和可变孔径光阑改变光照度，设置芯片曝光时间，采集低照度CMOS芯片产生的图像信号，并将它转换成对应的电压信号，通过数据处理得到相应的参数值。本发明可以科学地评价低照度CMOS芯片的性能，为低照度CMOS的研制和生产提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 照度 cmos 芯片 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种低照度CMOS芯片性能测试系统，其特征在于，包括卤钨灯光源(1)、电动狭缝(2)、第一积分球(3)、可变孔径光阑(4)、第二积分球(5)、暗箱(6)、待测低照度CMOS芯片、光照度计(7)和计算机(8)；所述电动狭缝(2)设置在卤钨灯光源(1)和第一积分球(3)入光面之间，所述可变孔径光阑(4)设置在第一积分球(3)出光面与第二积分球(5)入光面之间，第二积分球(5)的出光面连接暗箱(6)入口，暗箱(6)内置待测低照度CMOS芯片，低照度CMOS芯片输出端连接计算机(8)，第二积分球(5)出光面所在球壁上设有两个窗孔，用于连接光照度计(7)上的硅光电池和倍增管，所述光照度计(7)用于读取入射到低照度CMOS芯片光敏面的光照度；卤钨灯光源(1)发出的光线经过电动狭缝(2)对光照度进行衰减，狭缝大小由计算机(8)控制，衰减后的光入射到第一积分球(3)内，第一积分球(3)出射光再次经过可变孔径光阑(4)进行二次衰减，经过二次衰减的光入射到第二积分球(5)内，通过第二积分球(5)使光均匀入射到暗箱(6)内低照度CMOS芯片的光敏面上，低照度CMOS芯片后端连接计算机(8)，所述计算机(8)用于对低照度CMOS芯片输出信号进行视频采集。
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