[发明专利]一种记忆合金圈密封装置在审

专利信息
申请号: 201610700955.7 申请日: 2016-08-23
公开(公告)号: CN106065948A 公开(公告)日: 2016-11-02
发明(设计)人: 张国亮 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: F16J15/08 分类号: F16J15/08;C22C14/00;C22C19/03
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种记忆合金圈密封装置,该装置主要包括外筒、记忆合金圈和端盖,记忆合金圈分为外记忆合金圈和内记忆合金圈。升温相变时,记忆合金圈变为高温相形状,外记忆合金圈的形状整体收缩,内记忆合金圈的形状整体涨大,可对薄壁外筒装置内的液体或气体介质实现密封作用。降温相变时,记忆合金圈变为低温相形状,外记忆合金圈的形状整体涨大,内记忆合金圈的形状整体收缩,可对密封装置进行自由拆卸。密封状态下,外记忆合金圈和内记忆合金圈在薄壁外筒内外表面上产生的合力理论值为零,可以避免薄壁外筒单侧受力变形带来的泄漏风险。本发明的记忆合金圈密封装置密封寿命长,且不会降低薄壁外筒装置内的介质密封效果。
搜索关键词: 一种 记忆 合金 密封 装置
【主权项】:
一种记忆合金圈密封装置,包括外筒(1)、记忆合金圈和端盖(4),其特征在于:所述的记忆合金圈分为外记忆合金圈(2)和内记忆合金圈(3),外筒(1)为圆筒形,圆筒的一端用端盖(4)密封,另一端开放,外筒(1)的内表面套装内记忆合金圈(3),外表面套装外记忆合金圈(2);所述的外记忆合金圈(2)形状收缩后与外筒(1)的外圆柱表面Ⅰ(12)及端盖(4)的外圆柱表面Ⅱ(42)紧密接触,外记忆合金圈(2)形状涨大后与外筒(1)的外圆柱表面Ⅰ(12)及端盖(4)的外圆柱表面Ⅱ(42)完全脱离,内记忆合金圈(3)形状涨大后与外筒(1)的内圆柱表面Ⅰ(11)及端盖(4)的内圆柱表面Ⅱ(41)紧密接触,内记忆合金圈(3)形状收缩后与外筒(1)的内圆柱表面Ⅰ(11)及端盖(4)的内圆柱表面Ⅱ(41)完全脱离;所述的外记忆合金圈(2)和内记忆合金圈(3)的材料是具有双程记忆效应的形状记忆合金。
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