[发明专利]可用来判断参考物件或光源相对位置的光学侦测装置有效
| 申请号： | 201610701434.3 | 申请日： | 2016-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN107765258B | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 锺庆霖;林典立 | 申请（专利权）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06;G01S17/08;G01S17/50;G01S17/58 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是公开一种可根据一光源发出之一侦测光讯号透过一参考物件产生的一反射光讯号来判断该参考物件或该光源相对位置的光学侦测装置。该光学侦测装置包含有一透光元件、至少一不透光结构以及一光学侦测元件。该透光元件之一焦距是大于一预定距离。该不透光结构相对该透光元件位于特定位置。该光学侦测元件以间隔该预定距离之方式邻设于该透光元件。该反射光讯号通过该透光元件投射到该光学侦测元件之一侦测面，该不透光结构阻挡部份的该反射光讯号而在该侦测面形成一特征影像，并根据该特征影像之一参数判断该参考物件或该光源的相对位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用来 判断 参考 物件 光源 相对 位置 光学 侦测 装置 | ||
【主权项】：
一种光学侦测装置，其特征在于，可根据一光源发出之一侦测光讯号透过一参考物件产生的一反射光讯号来判断该参考物件或该光源的相对位置，该光学侦测装置包含有：一透光元件，该透光元件之一焦距是大于一预定距离；至少一不透光结构，位于与该透光元件呈一预定相对关系的位置上；以及一光学侦测元件，以间隔该预定距离之方式邻设于该透光元件，该反射光讯号沿着一投射方向通过该透光元件投射到该光学侦测元件之一侦测面，该不透光结构阻挡部份的该反射光讯号而在该侦测面形成一特征影像，且该光学侦测元件根据该特征影像之一参数判断该参考物件或该光源的该相对位置，其中该投射方向不平行于该侦测面之一法矢量。
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