[发明专利]一种倾角回转误差的测试方法有效

专利信息
申请号: 201610701467.8 申请日: 2016-08-22
公开(公告)号: CN106352846B 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;段亚轩;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 汪海艳
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种倾角回转误差的测试方法,包括以下步骤:将第一电子水平仪和第二电子水平仪互相垂直放置在待测转轴所在的转台的台面上;转动转台,待测转轴跟随转台每间隔Δθ°旋转一次,每旋转一次记录电子水平仪的示值,总共旋转角度为转台极限转角;记录两台电子水平仪的示值;根据得到的数据进行数据处理得到待测转轴的倾角回转误差,依据传统倾角回转误差计算方法,针对惯性系统回转范围受限,无法展成傅里叶级数,不能对倾角回转误差进行测试的问题,本发明提出了惯性系统中回转角度受限情况下倾角回转误差的测试方法,给出了倾角回转误差的算法。
搜索关键词: 一种 倾角 回转 误差 测试 方法
【主权项】:
1.一种倾角回转误差的测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一:将第一电子水平仪和第二电子水平仪互相垂直放置在待测转轴所在的转台的台面上;步骤二:转动转台,待测转轴跟随转台每间隔Δθ°旋转一次,每旋转一次记录电子水平仪的示值,总共旋转角度为转台极限转角;记旋转次数为i,i=1,2…,n;记待测转轴的旋转角度为θi,其中θi=i×Δθ°;电子水平仪的示值记为Wxi和Wyi;其中Wxi为第一电子水平仪示值;Wyi为第二电子水平仪示值;步骤三:数据处理3.1:利用最小二乘法,拟合测量值Wxi和Wyi的理论曲线;理论曲线如公式(1)所示;式中:W’xi—待测转轴在各旋转角度时第一电子水平仪的理论示值;W’yi—待测转轴在各旋转角度时第二电子水平仪的理论示值;a1—第一电子水平仪零位引入的零次谐波分量;a2—待测转轴自身倾斜在第一电子水平仪所在方向引入的一次谐波分量;a3—待测转轴自身倾斜在第一电子水平仪所在方向引入的一次谐波分量的起始相位角;b1—第二电子水平仪零位引入的零次谐波分量;b2—待测转轴自身倾斜在第二电子水平仪所在方向引入的一次谐波分量;b3—待测转轴自身倾斜在第二电子水平仪所在方向引入的一次谐波分量的起始相位角;3.2:利用公式(1)得到的理论值,通过公式(2)计算被测转轴的倾角回转误差的两个正交分量ΔWxi和ΔWyi;3.3:通过公式(3)计算被测转轴的倾角回转误差;
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