[发明专利]一种改善X射线荧光法测定闪速熔炼炉渣中Sb元素含量工作曲线线性的方法有效

专利信息
申请号: 201610706240.2 申请日: 2016-08-23
公开(公告)号: CN106370683B 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 唐书天;殷昕;王纪华;史光源;王勇 申请(专利权)人: 金川集团股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N1/28
代理公司: 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人: 李琪
地址: 737103*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明提供了一种改善X射线荧光法测定闪速熔炼炉渣中Sb元素含量工作曲线线性的方法,主要包括如下步骤:(1)收集一组具有不同Sb元素含量的闪速熔炼炉渣作为样品,粉碎后制成一组标准样品;(2)取两份相同标准样品,一份利用化学分析方法进行Sb元素含量的测定;另一份利用X荧光光谱仪测定Sb元素的谱线强度,且X荧光光谱仪的分光晶体选用LiF220;以测定的Sb元素含量为横坐标,以测定的Sb元素谱线强度为纵坐标,得到一组不同的Sb元素工作曲线标准点;(3)对步骤(2)得到的一组Sb元素工作曲线标准点进行一次线性回归,即可得到具有线性特点的X射线荧光法测定闪速熔炼炉渣中Sb元素含量的工作曲线。
搜索关键词: 一种 改善 射线 荧光 测定 熔炼 炉渣 sb 元素 含量 工作 曲线 线性 方法
【主权项】:
一种改善X射线荧光法测定闪速熔炼炉渣中Sb元素含量工作曲线线性的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:收集一组具有不同Sb元素含量的闪速熔炼炉渣作为样品,所述样品中的Sb元素含量在0.005‑0.060%之间且Sb元素含量呈梯度分布,通过制样粉碎机将样品粉碎至100‑200目,制成一组标准样品;步骤二:取两份相同Sb元素含量的标准样品,一份利用化学分析方法进行Sb元素含量的测定,测定值作为该样品Sb元素含量的定值;另一份在制成标准样片后,利用X荧光光谱仪测定Sb元素的谱线强度,且X荧光光谱仪的分光晶体选用LiF220;以化学分析方法测定的Sb元素含量为横坐标,以X荧光光谱仪测定的Sb元素谱线强度为纵坐标,得到一个Sb元素工作曲线标准点;通过测定步骤一全部标准样品的Sb元素含量和谱线强度,即可得到一组不同的Sb元素工作曲线标准点;步骤三:对步骤二得到的一组Sb元素工作曲线标准点进行一次线性回归,即可得到具有线性特点的X射线荧光法测定闪速熔炼炉渣中Sb元素含量的工作曲线。
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