[发明专利]红外线扫描测温修正方法有效
| 申请号： | 201610708345.1 | 申请日： | 2016-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN106404177B | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 曹明润;张亚东;张卫星;徐勇;汪升 | 申请（专利权）人： | 合肥金星机电科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109 | 代理人： | 汤茂盛 |
| 地址： | 230088 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种红外线扫描测温修正方法，属于红外热像测温技术领域，该方法包括获取红外线扫描仪扫描视场的测温像素点信息；根据所述测温像素点信息，基于预设的温度修正模型，修正红外线扫描仪所测的温度。通过预设的温度修正模型，对红外线扫描仪扫描视场的每个测温像素点的温度进行修正，纠正视窗角度和距离对红外线扫描仪测量的温度的影响，使红外线扫描仪测量的温度更加精确的接近被测目标的温度，提高了红外线扫描仪扫测量温度的精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 红外线 扫描 测温 修正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种红外线扫描测温修正方法，其特征在于：包括如下步骤：S1、分别获取红外线扫描仪扫描信息和被测目标的尺寸信息，所述红外线扫描仪扫描信息包括扫描视场的测温像素点信息及红外线扫描仪相对被测目标的安装位置信息；S2、根据所述测温像素点信息，基于预设的温度修正模型，修正红外线扫描仪所测的温度；其中，所述的温度修正模型是：![]()
其中，A、xc、y0、w1、w2、w3、a、b为常量，β为红外线扫描仪扫描视场角度的范围，X为红外线扫描仪到被测目标所在面的距离，Y为红外线扫描仪到被测目标上边缘所在水平面的距离，dmin为红外线扫描仪到被测目标之间有效测温的最小距离，i为红外线扫描仪测温像素点且1≤i≤n，n为红外线扫描仪的测温像素点总数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥金星机电科技发展有限公司，未经合肥金星机电科技发展有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610708345.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
