[发明专利]内嵌式触摸屏及测试电路

摘要

本发明提供一种内嵌式触摸屏测试电路，所述测试电路连接触控电极阵列，所述触控电极阵列连接显示阵列，所述显示阵列为所述触控电极阵列提供测试信号；所述测试电路包括：多个控制信号源、多个测试信号采集端及多个薄膜晶体管，每一所述触控电极对应一个所述薄膜晶体管，每一所述触控电极分别连接至任意一个不重复的所述薄膜晶体管；有益效果为：本发明提供的内嵌式触摸屏测试电路，能够单独对每个触控电极进行测试，精确的找出异常触控电极的位置，完整精准的体现整个面板的电性数据，避免不良触摸屏流入其他制程中造成不必要的材料浪费。

主权项

1.一种内嵌式触摸屏测试电路，其特征在于，所述测试电路连接触控电极阵列，所述触控电极阵列连接显示阵列，所述显示阵列为所述触控电极阵列提供测试信号；所述测试电路包括：多个控制信号源，用于为所述测试电路提供控制信号；多个测试信号采集端，用于采集相对应的触控电极上的测试信号；多个薄膜晶体管，包括输入端、控制端及输出端；用于接收相对应的所述触控电极上的测试信号，并受所述控制信号源提供的控制信号控制，将相对应的所述触控电极上的测试信号输入至相对应的所述测试信号采集端上；所述薄膜晶体管的输入端连接相对应的所述触控电极，所述薄膜晶体管的控制端连接相对应的所述控制信号源，所述薄膜晶体管的输出端连接相对应的所述测试信号采集端；其中，每一所述触控电极对应一个所述薄膜晶体管，每一所述触控电极分别连接至任意一个不重复的所述薄膜晶体管。