[发明专利]电子级砷烷中痕量金属杂质含量的取样装置和分析方法有效

专利信息
申请号: 201610710162.3 申请日: 2016-08-23
公开(公告)号: CN106226138B 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 周庆美;李东升 申请(专利权)人: 上海正帆科技股份有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N27/62
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 翁若莹;王婧
地址: 201108 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种电子级砷烷中痕量金属杂质含量的取样装置,其特征在于,包括样品管路和吹扫气体管路,所述的样品管路包括砷烷钢瓶、冷却盘管、取样瓶和真空发生器,所述的砷烷钢瓶的瓶阀通过管路连接设于冷阱中的冷却盘管的一端,冷却盘管的另一端通过管路连接取样瓶的入口,取样瓶的出口连接第五隔膜阀,第五隔膜阀连接真空发生器的入口,真空发生器的出口连接尾气处理系统;砷烷钢瓶的瓶阀与冷却盘管之间的管路连接吹扫气体管路。本发明利用冷阱取液态砷烷样品然后汽化挥发的方法,金属杂质残留在PFA样品瓶底,再加入硝酸溶液溶解后,最终以ICP‑MS进样检测,解决了电子级砷烷中金属杂质含量的分析检测问题,检测限可低至ppt级。
搜索关键词: 电子 级砷烷中 痕量 金属 杂质 含量 取样 装置 分析 方法
【主权项】:
1.一种电子级砷烷中痕量金属杂质含量的取样装置,其特征在于,包括样品管路和吹扫气体管路,所述的样品管路包括砷烷钢瓶(2)、冷却盘管(15)、取样瓶(18)和真空发生器(10),所述的砷烷钢瓶(2)的瓶阀通过管路连接设于冷阱(16)中的冷却盘管(15)的一端,冷却盘管(15)的另一端通过管路连接取样瓶(18)的入口,取样瓶(18)的出口连接第五隔膜阀(20),第五隔膜阀(20)连接真空发生器(10)的入口,真空发生器(10)的出口连接尾气处理系统;砷烷钢瓶(2)的瓶阀与冷却盘管(15)之间的管路连接吹扫气体管路;所述的吹扫气体管路包括吹扫气钢瓶(1),吹扫气钢瓶(1)的瓶阀通过气体管道与单向阀(4)相连,单向阀(4)与第一隔膜阀(5)相连,第一隔膜阀(5)分别与第一调压阀(6)、第二调压阀(12)和第二压力表(11)相连,第一调压阀(6)分别与第一压力表(7)和第二隔膜阀(9)相连,第二隔膜阀(9)与真空发生器(10)相连,第二调压阀(12)分别与第三压力表(13)和第三隔膜阀(14)相连,第三隔膜阀(14)连接砷烷钢瓶(2)的瓶阀与冷却盘管(15)之间的管路。
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