[发明专利]太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法

摘要

本发明涉及一种太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法，针对太赫兹波检测颗粒样品时由于散射效应的存在，导致频率谱线随着频率增大而缓慢变高，在后期应用中提取特征谱线中特征峰的位置和峰高时会引入较大误差，从而无法准确地描述被测样品在太赫兹波段内的光谱特性这一问题，从太赫兹系统采集得到的时域或者频域信号，建立对应的数学模型，推导频谱散射线与频率之间的对应关系，最终得到去除散射线之后的特征谱线。可以提高被测样品的特征峰和峰高的提取精度。该方法简单易行，适用范围广，准确度高。

主权项

一种太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法，其特征在于，太赫兹系统测试信号为时域信号时，去除频谱散射线具体步骤包括为：1)检测系统在未放置样品的情况下，扫描得到太赫兹时域参考信号RTime(t)，对其进行傅里叶变换后，得到参考频域信息RTime(ω)，根据平均频率计算公式求得参考频谱信号平均频率μr_Time；2)在相同的检测系统中，放置被测样品后，扫描得到太赫兹时域测试信号SS_Time(t)，对其进行傅里叶变换后，得到测试频域信息SS_Time(ω)，根据平均频率计算公式求得测试频谱信号平均频率μS_Time；3)计算得采集信号为时域信息的太赫兹系统检测颗粒样品时的特征谱线αTime(ω)；4)计算得采集信号为时域信息的太赫兹系统检测颗粒样品时的频谱散射线αS_Time(ω)；5)用步骤3)所得实际测得的被测样品特征谱线减去频谱散射线αS_Time(ω)，得到最终的样品特征谱。