[发明专利]一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法有效
申请号: | 201610710865.6 | 申请日: | 2016-08-23 |
公开(公告)号: | CN106404352B | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 张俊波;张昂 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法,该测量方法中,平行光源(1)直接入射被测大视场望远镜(6),视场改变是通过调整平行光源(1)的倾斜和俯仰姿态实现,全视场测量过程中,被测大视场望远镜(6)保持固定状态,计算机(3)、波前探测器(4)及其运动台(5)组成闭环定位结构,准确测量并定位被测大视场望远镜(6)像点的空间位置,对比像点的理想位置,拟合得到被测大视场望远镜(6)光学系统的畸变和场曲。本发明的测量方法操作简单高效、测量精度高,并能实现自动检测,为大视场望远镜光学系统校正畸变和场曲提供了可靠的测量数据。 | ||
搜索关键词: | 一种 视场 望远镜 光学系统 畸变 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法,其特征在于:平行光源(1)直接入射被测大视场望远镜(6),计算机(3)、波前传感器(4)及其运动台(5)组成定位闭环结构,用于探测被测大视场望远镜(6)的像点位置,该测量方法包括如下检测步骤:第一步:测量视场标记,根据视场范围和测量精度要求选择测量视场,并标记序号;第二步:测量视场改变,利用调整台(2)改变平行光源(1)的倾斜和俯仰姿态,达到被测大视场望远镜(6)所需的入射视场角;第三步:像点定位,利用定位闭环结构使波前传感器(4)运动至被测大视场望远镜(6)的像点位置,并记录像点位置坐标;所述的定位闭环结构的判据函数如下,
其中,Cj表示波前传感器(4)中第j个子孔径单元的光强判据函数数值,N表示波前传感器(4)的子孔径单元数量,Zntilt、Zntip、Zndefocus分别表示被测大视场望远镜(6)光学系统波前信息中的倾斜、俯仰、离焦项数据,etilt、etip、edefocus分别表示像点位置的倾斜、俯仰、离焦项容许误差;第四步:全视场像点测量,根据第一步确定的测量视场,按序号重复第二步和第三步,直至全部完成,并记录所有像点位置;第五步:畸变和场曲拟合,根据数学方法将记录的所有像点位置进行曲面拟合,对比理想像点位置,得到畸变和场曲结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610710865.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种减小空间辐射下掺铒光纤损耗的方法
- 下一篇:一种光纤测试系统