[发明专利]用于回旋行波管耦合结构的场分布测试系统及其测试方法有效
申请号: | 201610716714.1 | 申请日: | 2016-08-24 |
公开(公告)号: | CN106124871B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 蒋艺;雷文强;胡鹏;胡林林;孙迪敏;周泉丰;黄银虎;宋睿;阎磊;曾造金;卓婷婷;马国武;陈洪斌 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
主分类号: | G01R29/14 | 分类号: | G01R29/14;G01R29/08 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人: | 郑健 |
地址: | 621999*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于回旋行波管耦合结构的场分布测试系统及测试方法,包括:信号源;以及依次设置在信号源的微波信号发射方向的待测回旋行波管耦合结构、波导探针、标准WR6波导和功率计;其中,将波导探针、标准WR6波导和功率计放置在三维调节平台上,调节三维调节平台以实现功率值的调节,进而对功率值和三维调节平台的位置信息进行一一对应处理,得到待测回旋行波管耦合结构场分布图。本发明能够在110GHz至170GHz频率范围内,测量得到回旋行波管耦合结构的场分布情况,能够对耦合结构进行的挑选,满足回旋行波管耦合结构的场分布测试要求。该方法在D波段回旋行波管产品研制中获得应用,具有很强的实际应用价值,为推动太赫兹系统产品的应用奠定了基础。 | ||
搜索关键词: | 用于 回旋 行波 耦合 结构 分布 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种用于回旋行波管耦合结构的场分布测试系统,其特征在于,包括:用于发射微波信号的信号源;以及依次设置在信号源的微波信号发射方向的待测回旋行波管耦合结构、波导探针、标准WR6波导和功率计;其中,将波导探针、标准WR6波导和功率计放置在三维调节平台上,调节三维调节平台以实现功率值的调节,进而对功率值和三维调节平台的位置信息进行一一对应处理,得到待测回旋行波管耦合结构场分布图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所,未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610716714.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:共用USB的智能网关
- 下一篇:磁性密封的闸阀