[发明专利]芯片的测试方法和装置有效
| 申请号： | 201610720821.1 | 申请日： | 2016-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN106405386B | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 翟英;张箭 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;张永明 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的测试方法和装置。其中，该装置包括：现场可编程门阵列，生成用于测试待测试芯片的至少一个测试图像；数据转换装置，通过现场可编程门阵列的第一数据传输接口与现场可编程门阵列电连接，用于将现场可编程门阵列生成的测试图像的图像数据转换成目标信号；待测试芯片，通过数据转换装置的第二数据传输接口与数据转换装置电连接，用于根据目标信号生成控制信号，其中，控制信号用于控制显示器显示测试图像。本发明解决了现有技术中对TCON进行测试时，测试功能较单一的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片的测试装置，其特征在于，包括：现场可编程门阵列，生成用于测试待测试芯片的至少一个测试图像；数据转换装置，通过所述现场可编程门阵列的第一数据传输接口与所述现场可编程门阵列电连接，用于将所述现场可编程门阵列生成的所述测试图像的图像数据转换成目标信号；所述待测试芯片，通过所述数据转换装置的第二数据传输接口与所述数据转换装置电连接，用于根据所述目标信号生成控制信号，其中，所述控制信号用于控制显示器显示所述测试图像；所述测试装置还包括：控制器，用于通过所述控制器的第三数据传输接口向所述现场可编程门阵列发送配置信号，并通过所述控制器的第四数据传输接口获取所述待测试芯片的运行参数，其中，所述配置信号用于配置所述至少一个测试图像的分辨率，所述运行参数用于确定所述待测试芯片是否运行正常；所述第一数据传输接口为数字RGB接口，所述第二数据传输接口为高清音视频流传输接口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司，未经硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610720821.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于触发器链的逻辑电路单粒子效应测试方法
- 下一篇：FPGA内部延迟测量方法
