[发明专利]硅片少子寿命测试仪用定位装置在审
| 申请号： | 201610721325.8 | 申请日： | 2016-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN106124959A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 王栋;姜树华;华万峰 | 申请（专利权）人： | 高佳太阳能股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 张海英;徐鹏飞 |
| 地址： | 214174 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，包括底托盘，所述底托盘的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部及定位部，所述定位部设置于安装部的上端，且定位部上设置有缓冲垫。所述硅片少子寿命测试仪用定位装置通过采用定位挡板实现硅片的定位，可保证硅片摆放不会出现倾斜，避免测试失败，且在定位部上设置缓冲垫，可有效避免硅片和定位部直接碰撞造成破碎，结构简单、易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 硅片 少子 寿命 测试仪 定位 装置 | ||
【主权项】：
一种硅片少子寿命测试仪用定位装置，其特征在于：包括底托盘，所述底托盘的一侧设置有定位挡板，所述定位挡板包括安装部及定位部，所述定位部设置于安装部的上端，且定位部上设置有缓冲垫。
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