[发明专利]镭射校正方法在审
| 申请号： | 201610722870.9 | 申请日： | 2016-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN106181024A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 杜嘉伦 | 申请（专利权）人： | 关键应用科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B23K26/04 | 分类号： | B23K26/04 |
| 代理公司： | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人： | 牟长林 |
| 地址： | 中国台湾新竹县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种镭射校正方法，包括如下步骤：S01：提供一校正片具有一格子矩阵；S02：通过至少一视觉检测器识别该格子矩阵的其中至少一起始校正格的一坐标位置；S03：通过至少一镭射源在该起始校正格内留下一镭射打点，并以该视觉检测器检测该镭射打点取得一起始校正格误差值；S04：以该起始校正格的坐标位置为一工作中心，将该格子矩阵分为多阶环路，每一阶环路包括多个对角校正格及多个中央校正格；S05：通过该视觉检测器及该镭射源对该多阶环路进行校正，其中，该视觉检测器检测每一阶环路的对角校正格内分别留下的一镭射打点位置以取得该对角校正格的一误差值作为同一阶环路的中央校正格的一镭射补偿值及下一阶环路的对角校正格的一镭射补偿值。 | ||
| 搜索关键词： | 镭射 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种镭射校正方法，其特征在于，包括如下步骤：S01：提供一校正片，该校正片具有一格子矩阵；S02：通过至少一视觉检测器识别该格子矩阵的其中至少一起始校正格的一坐标位置；S03：通过至少一镭射源在该起始校正格内留下一镭射打点，并以该视觉检测器检测该镭射打点取得一起始校正格误差值；S04：以该起始校正格的坐标位置为一工作中心，将该格子矩阵分为多阶环路，每一阶环路包括多个对角校正格及多个中央校正格；S05：通过该视觉检测器及该镭射源对该多阶环路进行校正，其中，该视觉检测器检测每一阶环路的对角校正格内分别留下的一镭射打点位置以取得该对角校正格的一误差值作为同一阶环路的中央校正格的一镭射补偿值及下一阶环路的对角校正格的一镭射补偿值。
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