[发明专利]基于射频对消的相位噪声测量方法、装置有效
| 申请号： | 201610723141.5 | 申请日： | 2016-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN106338658B | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 张方正;史经展;潘时龙 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于射频对消的相位噪声测量方法。该方法将与待测微波信号频率相同的参考微波信号分为两路；利用其中一路参考微波信号与待测微波信号进行对消处理，从而将相位噪声对载波的相位调制转化为抑制载波的幅度调制；然后将对消处理后的信号与另外一路参考微波信号进行相干解调；最后通过对相干解调后信号的低频分量进行频谱分析得到待测微波信号的相位噪声。本发明还公开了一种基于射频对消的相位噪声测量装置。相比现有技术，本发明的测量灵敏度更高，校准过程更简便。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射频 对消 相位 噪声 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.基于射频对消的相位噪声测量方法，其特征在于，将与待测微波信号频率相同的参考微波信号分为两路；利用其中一路参考微波信号与待测微波信号进行对消处理，从而将相位噪声对载波的相位调制转化为抑制载波的幅度调制；然后将对消处理后的信号与另外一路参考微波信号进行相干解调；最后通过对相干解调后信号的低频分量进行频谱分析得到待测微波信号的相位噪声。
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