[发明专利]一种通信光纤宏弯损耗测试方法在审
| 申请号： | 201610723643.8 | 申请日： | 2016-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN106441812A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 李琳莹;甘露;宋志佗;李秋云 | 申请（专利权）人： | 电信科学技术第五研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙)51220 | 代理人： | 赵雷 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通信光纤宏弯损耗测试方法，将待测通信光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后，置于光功率吸收剂中，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率，抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了宏弯损耗测试的准确性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通信 光纤 损耗 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种通信光纤宏弯损耗测试方法，其特征在于，包括如下步骤：A、按照测试要求制备待测光纤，具体为将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈；B、将待测光纤置于光功率吸收剂中；C、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。
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