[发明专利]基于应力波波场检测波速、材料状态及损伤程度的方法有效
申请号: | 201610727055.1 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106370727B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 刘战伟;朱文颖 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/07;G01N29/36;G01H9/00 |
代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
地址: | 100081 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了基于应力波波场检测波速、材料状态及损伤程度的方法,制作透射栅线,直流强光源通过透射栅线投影到试件表面形成静态的反射条纹,全反射后,被高速相机接收;对试件施加激励,激励产生的应力波使反射条纹发生位移,高速相机采集时间序列上反射条纹的变化,对反射条纹图像进行相减分析,获得变形场随时间演化规律;采用多点测量求平均值的方法,计算获得应力波在试件材料中传播的波速;识别出试件内部的缺陷位置和大小尺寸信息,反演出试件内部沿应力传播方向的残余应力分布。本发明采用完全非接触式的二维应力波波速测量方法、材料状态及无损程度的方法,灵敏度高,操作简单,实现了应力波波场传播规律的可视化。 | ||
搜索关键词: | 基于 应力 波波场 检测 波速 材料 状态 损伤 程度 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于应力波波场检测波速、材料状态及损伤程度的方法,其特征在于,包括如下步骤:采用激光打标机优化参数制栅法制作透射栅线,直流强光照射通过所述栅线在试件表面形成静态的反射条纹,经过所述试件表面的全反射后,所述静态的反射条纹被高速相机采集;固定试件,使用霍普金森杆撞击所述试件的前端或敲击所述试件的前端,在所述试件内部形成二维应力波,当应力波沿着所述试件长度方向传播时,反射条纹产生显著变化,时间序列上的反射条纹变化图像被高速相机接收;对采集到的时间序列上的反射条纹变化图像进行分析,获得条纹变形场随时间的演化规律;利用求得试件表面的条纹变形场随时间的演化规律,即应力波波场传播规律,采用多点测量取平均值的方法,计算获得试件材料的应力波速;利用所述应力波波场传播规律及波前畸变规律,识别出试件内部缺陷位置和大小尺寸信息;利用所述应力波波场传播规律,反演出试件内部的二维残余应力分布。
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