[发明专利]用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法有效

专利信息
申请号: 201610727174.7 申请日: 2016-08-25
公开(公告)号: CN106480492B 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 守山实希 申请(专利权)人: 丰田合成株式会社
主分类号: C30B9/12 分类号: C30B9/12;C30B29/40
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 蔡胜有;苏虹
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法,其被设计成生长具有高度再现性的半导体单晶。用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法包括向坩埚中添加籽晶基底、Ga和Na,以及生长第III族氮化物半导体单晶。在第III族氮化物半导体单晶的生长中,使用测量装置探测Ga与Na的反应。在坩埚的温度调整在80℃至200℃的第一温度范围内的情况下,Ga与Na反应。在测量装置探测到Ga与Na反应之后,将坩埚的温度升高至第III族氮化物半导体单晶的生长温度。
搜索关键词: 第III族氮化物半导体 单晶 坩埚 生长 探测 半导体单晶 测量装置 使用测量 温度调整 再现性 基底 籽晶 生产
【主权项】:
1.一种用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法,所述方法包括:/n向坩埚中添加籽晶基底、Ga和Na,以及生长第III族氮化物半导体单晶,/n其中,在预定生长温度下在所述第III族氮化物半导体单晶的生长中,/n在将所述坩埚的温度调节为低于500℃的第一温度范围内的情况下,使Ga与Na反应;以及/n在Ga与Na的反应之后,将所述坩埚的温度升高至所述第III族氮化物半导体单晶的生长温度,以及/n其中所述Ga与Na的反应通过用于探测所述Ga与Na的反应的测量装置来探测。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于丰田合成株式会社,未经丰田合成株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610727174.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top