[发明专利]用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法有效
申请号: | 201610727174.7 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106480492B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 守山实希 | 申请(专利权)人: | 丰田合成株式会社 |
主分类号: | C30B9/12 | 分类号: | C30B9/12;C30B29/40 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 蔡胜有;苏虹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法,其被设计成生长具有高度再现性的半导体单晶。用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法包括向坩埚中添加籽晶基底、Ga和Na,以及生长第III族氮化物半导体单晶。在第III族氮化物半导体单晶的生长中,使用测量装置探测Ga与Na的反应。在坩埚的温度调整在80℃至200℃的第一温度范围内的情况下,Ga与Na反应。在测量装置探测到Ga与Na反应之后,将坩埚的温度升高至第III族氮化物半导体单晶的生长温度。 | ||
搜索关键词: | 第III族氮化物半导体 单晶 坩埚 生长 探测 半导体单晶 测量装置 使用测量 温度调整 再现性 基底 籽晶 生产 | ||
【主权项】:
1.一种用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法,所述方法包括:/n向坩埚中添加籽晶基底、Ga和Na,以及生长第III族氮化物半导体单晶,/n其中,在预定生长温度下在所述第III族氮化物半导体单晶的生长中,/n在将所述坩埚的温度调节为低于500℃的第一温度范围内的情况下,使Ga与Na反应;以及/n在Ga与Na的反应之后,将所述坩埚的温度升高至所述第III族氮化物半导体单晶的生长温度,以及/n其中所述Ga与Na的反应通过用于探测所述Ga与Na的反应的测量装置来探测。/n
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