[发明专利]光学膜片翘曲力测量装置在审
| 申请号： | 201610727752.7 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN106404252A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 孙盛军 | 申请（专利权）人： | 明基材料有限公司 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明关于一种翘曲力测量装置，用于检测光学膜片，该测量装置包括测量平台，其用于放置于待检测的该光学膜片；第一连接杆，其设置于该测量平台上；测力传感器，其设置于该第一连接杆的端部；以及升降机构，该升降机构连接并驱动该第一连接杆以第一速度朝向该测量平台移动，使得该测力传感器接触该光学膜片的翘曲部，以测量该光学膜片的该翘曲部的翘曲力。本发明可以更加准确的判断光学膜片当前的翘曲范围，提高检测的精确程度，进而使得产品分级更加准确及合理。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 膜片 翘曲力 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种翘曲力测量装置，用于检测光学膜片，其特征在于，该测量装置包括：测量平台，其用于放置于待检测的该光学膜片；第一连接杆，其设置于该测量平台上；测力传感器，其设置于该第一连接杆的端部；以及升降机构，该升降机构连接并驱动该第一连接杆以第一速度朝向该测量平台移动，使得该测力传感器接触该光学膜片的翘曲部，以测量该光学膜片的该翘曲部的翘曲力。
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