[发明专利]颗粒物测量值的校准方法及装置有效
申请号: | 201610729751.6 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106370570B | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 孟亚楠;刘铁俊;刘东旭 | 申请(专利权)人: | 北京小米移动软件有限公司;北京智米科技有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 北京尚伦律师事务所 11477 | 代理人: | 代治国 |
地址: | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开是关于颗粒物测量值的校准方法及装置。该方法包括:在获取到当前颗粒物测量值时,获取当前温湿度参数;根据当前温湿度参数,从预存储的各不同温湿度参数下的颗粒物测量偏差值中获取当前温湿度参数下的颗粒物测量偏差值;根据当前温湿度参数下的颗粒物测量偏差值,对当前颗粒物测量值进行校准。该技术方案,在获取到该当前温湿度参数时,可以从预存储的各不同温湿度参数下的颗粒物测量偏差值中自动获取当前温湿度参数下的颗粒物测量偏差值,以便于根据该当前温湿度参数下的颗粒物测量偏差值,对当前颗粒物测量值进行精确校准,从而得到当前温湿度参数下标准的颗粒物测量值,进而使用户能够准确了解当前温湿度参数下的标准的颗粒物测量值。 | ||
搜索关键词: | 颗粒 测量 校准 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种颗粒物测量值的校准方法,其特征在于,包括:在获取到当前颗粒物测量值时,获取当前温湿度参数;根据所述当前温湿度参数,从预存储的各不同温湿度参数下的颗粒物测量偏差值中获取所述当前温湿度参数下的颗粒物测量偏差值;根据所述当前温湿度参数下的颗粒物测量偏差值,对所述当前颗粒物测量值进行校准。
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