[发明专利]一种采用批处理方式的高效安全攻击故障注入方法在审
| 申请号： | 201610730920.8 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN106371989A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 高顺贤;刘剑峰 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用批处理方式的高效安全攻击故障注入方法。该方法用于智能卡芯片的安全攻击测试中提高测试效率，也可用于其他需要开展故障注入攻击的测评项目中。故障注入攻击是安全测评中的重要检测项，传统的实现方式是针对某一种特定的操作，通过施加扰动的方式对被测对象进行干扰，目标是获取非预期的输出结果。这种方式需要根据不同的操作设定对应的攻击流程，特别是在激光注入攻击、电磁注入和前向体偏置注入攻击时，需要进行物理位置扫描，导致攻击效率低，且需要占用大量人工。本发明特征在于引入了批处理的方式，在故障注入攻击时将需要进行安全测评的一系列特定操作，按照指定的方式设定程序，依次顺序执行。特别是在位置扫描时，在每一个位置点执行不同的特定操作，大幅提升测试效率，实现真正意义上的自动化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 批处理 方式 高效 安全 攻击 故障 注入 方法 | ||
【主权项】：
一种采用批处理方式的高效安全攻击故障注入方法，其特征在于，将需要进行安全测评的一系列操作，通过参数设置，按照指定的方式设定程序，依次顺序执行，特别是在位置扫描时，在每一个位置点执行不同的特定操作，提升测试效率，实现真正意义上的自动化测试。
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