[发明专利]一种带反馈的旋转全内反射显微方法及装置

摘要

本发明公开一种带反馈的旋转全内反射显微装置，包括：沿光路依次设置的激光器、二维扫描振镜、扫描透镜、准直透镜、二色镜、分束镜、二色镜、显微场镜，全反射显微物镜和样品；位于分束镜反射光路上的光强位置探测器，用于收集分束镜反射激光器发出照明光得到第一光点，以及收集样品处发生全反射形成的样品光得到第二光点；计算机，用于根据第一光点和第二光电的位置信息，反馈得到全反射照明的角度以及倏逝波的穿透深度；以及用于采集样品发出荧光的CCD。本发明还公开了一种带反馈的旋转全内反射显微方法。本发明通过对样品和显微物镜同步反馈控制，能够保证样品处于最佳照明面和最佳成像面，具有更好的照明均匀性和成像分辨率。

主权项

1.一种带反馈的旋转全内反射显微装置，其特征在于，包括：沿光路依次设置的激光器、二维扫描振镜、扫描透镜、准直透镜、“X”型分束镜、二色镜、显微场镜，全反射显微物镜和样品；位于分束镜反射光路上的光强位置探测器，用于收集分束镜反射激光器发出照明光得到第一光点，以及收集样品处发生全反射形成的样品光得到第二光点；在样品处发生全反射的激光被全反射显微物镜接收，在全反射显微物镜后焦面聚焦，再经显微场景成为平行光，经二色镜反射后再经过“X”型分束镜反射，聚焦到光强位置探测器上，形成所述的第二光点；全反射面位于全反射显微物镜的前焦面上，全反射光会沿着与入射光对称光路回射到全反射显微物镜的后焦面上，全反射显微物镜的后焦面与光强位置探测器处于共轭成像面上，全反射回去的光会聚焦在光强位置探测器的成像面上，由于“X”型分束镜的作用，在“X”型分束镜正交放置时，从激光器照射过来的激光和全反射回来的光会重合成一个点；所述的二维扫描振镜位于扫描透镜的后焦面上，扫描透镜与准直透镜构成4f系统，准直透镜与显微场镜构成4f系统，显微场镜与全反射显微物镜构成4f系统；计算机，用于根据第一光点和第二光点的位置信息，控制二维扫描振镜、光强位置探测器和全反射显微物镜，使第一光点与第二光点重合，反馈得到全反射照明的角度以及倏逝波的穿透深度；以及用于采集样品发出荧光的CCD。