[发明专利]自动晶圆保护层去除设备在审
申请号: | 201610737403.3 | 申请日: | 2016-08-26 |
公开(公告)号: | CN106169421A | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 杨宗霖;萧腾蛟;蔡中维 | 申请(专利权)人: | 振图科技股份有限公司;威达邦有限公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人: | 刘祖芬 |
地址: | 中国台湾桃园市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种自动晶圆保护层去除设备,包括:一晶圆乘载装置、一切割刀组、一分脱机组、一底座,并将前述装置组固设于该底座上;所述晶圆乘载装置具有一乘载平台及一旋转轴,并使晶圆设置于其上,该切割刀组径向伸入该晶圆与该保护层间,并使乘载平台对应该切割刀组旋转将该保护层部分拨离,所述分脱机组对应伸入该晶圆与该保护层间,并将两者完整分离,并将保护层移除,再次将该切割刀组径向伸入该晶圆与表面胶材之间,所述分脱机组对应伸入该晶圆与该胶材间,并将两者完整分离;通过本发明的自动晶圆保护层去除设备可缩短工时并降低制造成本。 | ||
搜索关键词: | 自动 保护层 去除 设备 | ||
【主权项】:
一种自动晶圆保护层去除设备,其特征在于,包括:一晶圆乘载装置,具有一乘载平台及一旋转轴,所述乘载平台可旋转地与该旋转轴枢接;一切割刀组,具有一固定架、一切割刀及一刀架,所述固定架对应该晶圆乘载装置接近或远离设置,该切割刀架设于该刀架上,并且该刀架与该固定架滑动组设;一分脱机组,具有一支架,并设有多个导轮,这些导轮上绕设有至少一线材;一底座,具有一平台及至少一滑轨组,前述切割刀组、该分脱机组对应设置于该底座的平台上,该晶圆乘载装置的乘载平台对应设置于该滑轨组上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造