[发明专利]一种基于辐射电磁波检测的长间隙放电先导发展速度测量方法有效

专利信息
申请号: 201610742483.1 申请日: 2016-08-26
公开(公告)号: CN106370938B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 李涵;夏学智;周文俊;喻剑辉 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R31/12
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 鲁力
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种基于辐射电磁波检测的长间隙放电先导发展速度测量方法,包括一套高频天线、高速示波器和长间隙放电先导发展速度计算方法。本发明提出采用一定的天线布置形式,通过多个天线同时检测长间隙放电的辐射电磁脉冲时间,通过信号到达不同天线的时间差算法定位先导头部位置,进而计算出长间隙放电的先导发展速度。本发明可以有效提高放电先导发展速度的测量精度,分辨率达0.1ns级。
搜索关键词: 一种 基于 辐射 电磁波 检测 间隙 放电 先导 发展速度 测量方法
【主权项】:
一种基于辐射电磁波检测的长间隙放电先导发展速度测量方法,其特性在于,包括以下步骤:步骤1,将一套高频天线和高速示波器布置在待测量的电极附近,具体是将至少两个测量天线布置在远离电极的地方,位于长间隙放电的远场范围,天线参数一致,计划方向与放电通道方向相同;步骤2,由高速示波器得到两信号的时间差Δt,具体方法是:示波器通道数大于天线数量,带宽与天线带宽匹配,采样率不低于5GHz,阻抗为50Ω,两天线采集到由于放电先导辐射的电磁波到达两天线的时间不同造成的波形相同、时间具有微小差别的两信号步骤3,计算长间隙放电先导发展速度。
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