[发明专利]集成电路芯片直背式测试分选机上料传送装置有效
申请号: | 201610747265.7 | 申请日: | 2016-08-30 |
公开(公告)号: | CN106238339B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 谢名富;吴成君 | 申请(专利权)人: | 福州派利德电子科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B65G35/00 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350012 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明提出集成电路芯片直背式测试分选机上料传送装置;包括储料机构、推管机构、举管翻转机构、中间斜轨道、旋转上料机构、测试轨道、动力源和工控机;举管翻转机构与中间斜轨道相邻,中间斜轨道与旋转上料机构相邻,旋转上料机构在中间斜轨道与测试轨道间往复摆动;举管翻转机构内设有芯片第一滑道,旋转上料机构内设有芯片第二滑道,料管传送至举管翻转机构后;举管翻转机构翻转使芯片经料管口、第一滑道滑至中间斜轨道,然后旋转上料机构上摆与中间斜轨道对接以接收芯片,再下摆与测试轨道对接以释放芯片;本发明能直接把长条形芯片料管作为上料作业的物料使用,还能使上料过程中芯片的相对姿态固定,而且在上料过程中料管动作占据空间较小。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 芯片 直背式 测试 分选 机上料 传送 装置 | ||
【主权项】:
1.集成电路芯片直背式测试分选机上料传送装置,用于把长条形物料料管内的芯片传送至外部工序内,并使芯片在进入外部工序时芯片指定面的朝向保持不变,其特征在于:所述上料传送装置包括储料机构、推管机构、举管翻转机构、中间斜轨道、旋转上料机构、测试轨道、动力源和工控机;所述动力源驱动储料机构、推管机构、举管翻转机构和旋转上料机构,所述工控机连接至储料机构、推管机构、举管翻转机构、旋转上料机构和动力源进行控制;所述举管翻转机构与中间斜轨道的始端相邻,所述中间斜轨道向斜下方延伸至中间斜轨道末端与旋转上料机构相邻,所述旋转上料机构在中间斜轨道与测试轨道间往复摆动;所述储料机构包括垂直向的料管滑架和位于料管滑架底部的踢管错位装置,所述料管滑架内层叠放置物料料管,物料料管一端设出料管口,料管滑架内所有物料料管的出料管口位于料管滑槽的同侧;所述料管滑架内的物料料管经踢管错位装置、推管机构传送至举管翻转机构处;所述举管翻转机构内设有芯片第一滑道,所述旋转上料机构内设有芯片第二滑道,当举管翻转机构接收物料料管时,物料料管的料管出口与芯片第一滑道对接,举管翻转机构翻转使芯片第一滑道与中间斜轨道相接,物料料管内的芯片经料管出口、芯片第一滑道滑至中间斜轨道,然后旋转上料机构上摆至芯片第二滑道与中间斜轨道对接,当中间斜轨道处预定数量的芯片滑入旋转上料机构内后,旋转上料机构下摆使芯片第二滑道与测试轨道对接以向测试轨道传送芯片。
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