[发明专利]基于观察点与并行的故障注入模拟方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于观察点与并行的故障注入模拟方法及装置，属于集成电路故障注入模拟方法领域，为了解决现有技术的故障注入模拟方法使用单一观察点、单进程，导致模拟时间过长的缺点，进而提供了一种基于观察点与并行的故障注入模拟方法，包括从目标电路描述代码获得测试数据；设置故障注入参数；针对测试数据设置预设个观察点，使用并行方式进行故障注入，并生成输出文件；在每段的故障注入后，在下一个观察点检测所述目标电路是否正常运行，若是，则进行下一段注入，若否，则回到上一个观察点开始下一段故障注入；分析所述输出文件，得到故障分析结果。本发明还包括一种基于观察点与并行的故障注入模拟装置。本发明适用于集成电路抗辐射性能评估。

主权项

一种基于观察点与并行的故障注入模拟方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：从目标电路描述代码获得测试数据；步骤二：采用获得的测试数据分析电路层次结构，获得变量和网线信号的层次结构；步骤三：设置故障注入参数，所述故障注入参数包括故障注入位置，故障注入类型、故障注入时间、故障注入次数、监测信号以及观察点个数；步骤四：针对所述测试数据设置预定数量的观察点，使用并行方式进行故障注入，并生成输出文件；所述设置预定数量的观察点具体包括：将一次模拟的时间依据总模拟时间平均分成预定数量个段，每段末尾作为一个观察点，每一次的故障注入位置位于上一段的观察点和距下一段的观察点一段时间之间的时刻，并在每段的故障注入后，在下一个观察点检测所述目标程序是否正常运行，若是，则进行下一段注入，若否，则回到上一个观察点开始下一段故障注入；步骤五：分析所述输出文件，得到故障分析结果。