[发明专利]工控芯片调试系统和调试方法有效

专利信息
申请号: 201610752465.1 申请日: 2016-08-29
公开(公告)号: CN106407062B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 刘文斌;孙丰涛;黄银彬;王衍绪;李洋 申请(专利权)人: 珠海格力电器股份有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 廉振保
地址: 519070*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种工控芯片调试系统和调试方法,其中,该系统包括:被测工控芯片,设置有通讯接口,且允许同时多个参数被读写;智能终端,与所述被测工控芯片的通讯接口相连,用于同时读写所述被测工控芯片的多个参数。本发明实施例解决了现有技术中,每次只能读取或修改芯片的一个参数值,无法对芯片的多个参数值进行读写的技术问题,达到了对多个参数值的同时多写,同时可以实时监测多个参数之间的联动关系。
搜索关键词: 芯片 调试 系统 方法
【主权项】:
1.一种工控芯片调试系统,其特征在于,包括:被测工控芯片,设置有通讯接口,且允许同时多个参数被读写;智能终端,与所述被测工控芯片的通讯接口相连,用于同时读写所述被测工控芯片的多个参数;所述智能终端设置有显示屏,所述显示屏用于对读取的所述被测工控芯片的多个参数进行显示;所述显示屏,用于采用列表或者电路直观图的方式对读取的所述被测工控芯片的多个参数进行显示,其中,采用电路直观图的方式能够直接在电路图上各个器件或者支路的位置显示参数值;所述智能终端还设置有处理器,用于接收用户对一个或多个参数的调整请求,并响应于所述调整请求对所述被测工控芯片进行调整,同时显示在所述一个或多个参数被调整后,所述被测工控芯片各个参数的参数值;还用于显示所述被测工控芯片的各个参数随一个或多个参数的参数值被调整后的变化趋势。
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