[发明专利]光模块对批量测试数据整体迁移保存的方法在审
| 申请号： | 201610752802.7 | 申请日： | 2016-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN106406752A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 苏辉光 | 申请（专利权）人： | 深圳新飞通光电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G06F12/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及嵌入式通信技术领域，具体公开了一种光模块对批量测试数据整体迁移保存的方法，其包括步骤a，将待测光模块通过数据总线与一主机通信；步骤b，主机通过数据总线将模块的测试数据写入到光模块，或者读取存储在光模块里面的测试数据；步骤c，光模块通过其MCU的固件将寄存器RAM区的测试数据和存储器FLASH区的测试数据整体映射；步骤d，映射完成后，主机将光模块RAM区和FLASH区的测试数据作为一个区域通过数据总线进行整体大批量的读写操作。本发明可是实现光模块对批量测试大数据通过I2C总线灵活简单高效的读写操作，并提高生产效率，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 批量 测试数据 整体 迁移 保存 方法 | ||
【主权项】：
一种光模块对批量测试数据整体迁移保存的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤a，将待测光模块通过数据总线与一主机通信；步骤b，主机通过数据总线将模块的测试数据写入到光模块，或者读取存储在光模块里面的测试数据；步骤c，光模块通过其MCU的固件将寄存器RAM区的测试数据和存储器FLASH区的测试数据整体映射；步骤d，映射完成后，主机将光模块RAM区和FLASH区的测试数据作为一个区域通过数据总线进行整体大批量的读写操作。
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