[发明专利]一种针对轴承内外圈故障的定量趋势诊断方法在审
申请号: | 201610757869.X | 申请日: | 2016-08-30 |
公开(公告)号: | CN106295072A | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 崔玲丽;姚天昌;马春青 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G01M13/04 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 沈波 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种针对轴承内外圈故障的定量趋势诊断方法,该方法为一种基于Sparsogram与Lempel‑Ziv的定量趋势诊断方法。本发明针对,目前难于定量评价轴承故障发展趋势与确定故障位置的研究现状,研究了轴承的故障机理,提出了一种基于Sparsogram与Lempel‑Ziv的定量趋势诊断方法。应用Sparsogram算法对实测信号去噪,提取特征信号。将去噪信号进行Lempel‑Ziv复杂度指标化处理。通过研究发现,故障程度与Lempel‑Ziv复杂度指标值成一定比例关系,同时滚动轴承内、外圈故障位置的不同,Lempel‑Ziv复杂度分辨呈现递增与递减的不同趋势规律,由此判断故障位置与故障大小。 | ||
搜索关键词: | 一种 针对 轴承 外圈 故障 定量 趋势 诊断 方法 | ||
【主权项】:
一种针对轴承内外圈故障的定量趋势诊断方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤(1)对同一类型的滚动轴承原始信号进行i层小波包分解;步骤(2)重构与原始信号同样长度的小波包第i层所有结点系数,并以每个小波包结点的系数为实部,以小波包结点系数的Hilbert变换为虚部构造分析信号;然后,取分析信号的模得到分析信号的包络信号;随后,计算该包络信号的功率谱,计算第i层小波包结点的稀疏值;选择稀疏值最大或者第二大的结点作为最佳分析频带;(3)对最佳分析频带进行二进制处理,分别计算Lempel‑Ziv复杂度归一化值CnNh和CnNl,再综合得到Lempel‑Ziv综合指标CnN;根据Lempel‑Ziv复杂度的计算结果,绘制出Lempel‑Ziv复杂度值与故障损伤程度的关系图。
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